← 返回 JSSC 论文列表JSSC 2006第12期Data Converters0.18μm
A CMOS Imager With Column-Level ADC Using Dynamic Column Fixed-Pattern Noise Red
提出一种采用动态列切换技术的CMOS图像传感器，有效降低列级ADC引入的固定模式噪声。
0.18μm CMOS工艺，固定模式噪声降低至0.67%满量程
CMOS图像传感器列级ADC固定模式噪声动态列切换低功耗设计
▸创新点1：动态列切换技术（DCS）通过动态重新分配列信号路径，有效抑制了由列级ADC引入的固定模式噪声（FPN），使FPN降低至0.67%满量程，显著提升了图像传感器的视觉质量。这一方法创新通过仅需每列5个晶体管和最小数字开销实现了高效噪声抑制。
▸创新点2：低功耗列电路设计通过优化列级ADC的功耗结构，在0.18微米CMOS工艺中实现了显著的功耗降低，同时保持了高精度成像性能。这一电路创新为高分辨率图像传感器的能效比提供了新思路。
▸创新点3：单斜率架构ADC的采用简化了列级模数转换器的设计复杂度，同时通过动态列切换技术弥补了传统单斜率ADC在均匀性方面的不足。这一系统创新在降低芯片面积的同时提高了成像一致性。
▸创新点4：动态列切换技术与单斜率ADC的协同设计实现了系统级优化，既解决了固定模式噪声问题，又通过简化的架构降低了整体功耗和芯片面积（具体面积减少数据未在摘要中提及）。
Abstract
This paper presents a CMOS imager with column-
level ADC that uses a dynamic column fixed-pattern noise (FPN)
reduction technique. This technique, called dynamic column
switching (DCS), strongly reduces the perceptual effects of
nonuniformities introduced by the column-level ADC or any other
column-wise circuit element. This relaxes the uniformity require-
ments on the column-level ADC circuitry, which can significantly
decrease power consumption and chip area. The proposed DCS
technique requires