← 返回 JSSC 论文列表JSSC 2008第1期Memory65nmSRAM
Implementation of the Cell Broadband Engine in 65 nm SOI Technology Featuring Du
65纳米SOI技术实现的多核Cell Broadband Engine™,采用双电源供电提升SRAM稳定性和性能。
65nm SOI, 双电源供电
Cell Broadband EngineSOI技术SRAM稳定性双电源供电65纳米工艺
▸双电源供电SRAM阵列:采用独立的双电源供电方案,针对SRAM阵列进行优化,通过提升电压显著改善了稳定性和性能。这一电路创新在65 nm SOI技术中实现,硬件测量验证了其在不同应用场景下的优势。
▸新型SRAM单元分析方法:提出了一种在应用条件下分析SRAM单元的新方法,用于优化单元的稳定性、写入能力和性能。这一方法创新通过实际测试数据支持,为SRAM设计提供了更精确的调优手段。
▸改进的写入方案:引入了一种改进的写入方案,扩大了SRAM阵列的功能窗口,并允许独立于周围逻辑电路设置阵列的功耗/性能点。这一系统创新提升了整体设计的灵活性和效率。
▸独立功耗/性能调优:通过双电源供电和改进的写入方案,实现了SRAM阵列的功耗和性能独立调优,这一系统级创新为多核SoC设计提供了更高的可配置性和适应性。
Abstract
The 65 nm Cell Broadband Engine™ (Cell BE)
is a multi-core SoC, implemented in a high performance SOI
technology featuring a separate dual power supply for SRAM
arrays to improve stability and performance using an elevated
voltage. A new method is shown to analyze the SRAM cell under
application conditions which was used to tune the cell for stability,
write-ability and performance. An improved write scheme is
shown which widens the overall functional window and allows
setting the power/performa