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JSSC 2010第1期Other0.18μm

Stretchable EMI Measurement Sheet With 8 8 Coil Array 2 V Organic CMOS Decoder a

开发了一种可拉伸的电磁干扰测量片,用于检测电子设备表面的EMI分布。
电场检测最低60dBm,磁场检测最低70dBm,频率范围达1GHz
电磁干扰可拉伸测量片有机CMOS碳纳米管磁场检测
创新点1:8x8线圈阵列设计实现了高密度的电磁干扰(EMI)分布测量,通过64个检测单元覆盖大面积区域,显著提高了空间分辨率和测量精度,适用于复杂3D结构的电子设备表面检测。
创新点2:2V有机CMOS解码器的应用降低了系统功耗,同时兼容柔性电子技术,实现了低电压驱动下的高效信号解码,为可拉伸电子设备提供了低功耗解决方案。
创新点3:40%可拉伸碳纳米管互连技术突破了传统刚性互连的限制,使测量表能够适应不规则表面和动态形变,显著提升了设备的机械柔韧性和环境适应性。
创新点4:结合0.18μm硅CMOS电路实现了宽频带电场(700MHz)和磁场(1GHz)检测,最小可检测功率分别达到-60dBm和-70dBm,提供了高灵敏度的EMI测量能力。
Abstract
nd Magnetic Field Detection Koichi Ishida, Member , IEEE, Naoki Masunaga, Zhiwei Zhou, Tadashi Y asufuku , Student Member , IEEE, Tsuyoshi Sekitani, Member , IEEE, Ute Zschieschang, Hagen Klauk, Makoto Takamiya , Member , IEEE, Takao Someya, Member , IEEE, and Takayasu Sakurai , Fellow, IEEE Abstract—A stretchable /49/50 /49/50cm/50electromagnetic interfer- ence (EMI) measurement sheet is developed to enable the measure- ment of EMI distribution on the surface of electronic devices by wrapping t