← 返回 JSSC 论文列表
📄 下载 JSSC 原文 PDF
JSSC 2016第1期Other28nm

A NEMS Array Control IC for Subattogram Mass Sensing Applications in 28 nm CMOS

一种用于亚阿托克质量传感应用的28纳米CMOS NEMS阵列控制集成电路
28nm CMOS, 1.2V
NEMS质量传感CMOS集成电路亚阿托克
创新点1:NEMS阵列控制技术(系统创新):提出了一种高效控制NEMS阵列的方法,通过多通道并行处理实现高精度同步控制,显著提升了阵列的响应速度和稳定性。
创新点2:亚阿托克级质量传感(方法创新):开发了一种基于NEMS的超高灵敏度质量传感技术,能够检测亚阿托克级(10^-18克)的质量变化,为纳米级物质分析提供了新手段。
创新点3:28纳米CMOS工艺集成(电路创新):成功将NEMS控制电路集成到28纳米CMOS工艺中,实现了高密度、低功耗的片上系统设计,为大规模NEMS阵列的应用奠定了基础。
创新点4:高性能信号处理电路(电路创新):设计了低噪声、高增益的信号处理电路,有效提升了传感信号的信噪比,确保亚阿托克级质量检测的可靠性。