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JSSC 2016第6期MemorySRAM

02 V 8T SRAM With PVT Aware Bitline Sensing and Column Based Data Randomization

02V 8T SRAM采用PVT感知位线传感和基于列的数据随机化技术
0.2V, 8T SRAM
SRAM低电压位线传感数据随机化PVT感知
创新点1:PVT感知位线传感技术(电路创新)。该技术通过动态调整位线传感阈值,实时补偿工艺、电压和温度(PVT)变化的影响,在0.2V超低电压下仍能保持稳定的读取裕度,使读取错误率降低至1E-9以下。
创新点2:基于列的数据随机化(系统创新)。采用列级数据扰乱机制,通过伪随机序列对每列数据进行动态重映射,有效消除存储单元间的数据依赖性噪声,使静态噪声容限提升40%。
创新点3:8T单元低电压操作(电路创新)。通过新型8晶体管存储单元结构和亚阈值偏置技术,实现0.2V工作电压下的可靠数据保持,静态功耗较传统6T SRAM降低65%。
创新点4:自适应时序控制(方法创新)。集成PVT监测模块与动态时序调整电路,根据环境变化自动优化预充电和传感时序,使访问速度在不同工况下波动范围缩小至±15%。