← 返回 JSSC 论文列表
📄 下载 JSSC 原文 PDF
JSSC 2017第4期Other

A 023 μg Bias Instability and 1 μgHz Acceleration Noise Density

一种低偏置不稳定性和低加速度噪声密度的硅振荡器设计
023 μg Bias Instability, 1 μg/√Hz Acceleration Noise Density
硅振荡器偏置不稳定性加速度噪声密度低噪声高精度
创新点1:电路创新 - 通过优化硅振荡器的电路设计,实现了023 μg的偏置不稳定性,显著提升了振荡器的长期稳定性,适用于高精度应用场景。
创新点2:性能创新 - 采用先进的噪声抑制技术,将加速度噪声密度降低至1 μg/√Hz,极大地提高了振荡器在动态环境中的性能表现。
创新点3:系统创新 - 设计了一种新型硅振荡器架构,结合低功耗和高精度特性,为微机电系统(MEMS)和惯性导航系统提供了更优的解决方案。
创新点4:工艺创新 - 利用先进的硅基制造工艺,实现了振荡器的小型化和低成本化,同时保持了高性能指标,推动了相关技术的商业化应用。