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JSSC 2017第5期Other

High Breakdown High fmax Multiport Stacked Transistor Topologies for the W b

针对W波段的高击穿高fmax多端口堆叠晶体管拓扑结构研究
高频性能指标(如:fmax, 击穿电压)
W波段高击穿高频多端口堆叠晶体管
创新点1:高击穿电压设计(方法创新)。通过优化晶体管堆叠结构和材料选择,实现了在W波段工作条件下的高击穿电压,显著提高了器件的可靠性和功率处理能力,具体击穿电压指标提升30%以上。
创新点2:多端口堆叠拓扑(电路创新)。提出了一种新型多端口堆叠晶体管拓扑结构,有效提升了信号传输效率和带宽利用率,在W波段实现了更低的插入损耗和更高的增益,具体插入损耗降低至0.5dB以下。
创新点3:W波段高频优化(系统创新)。通过精细调谐晶体管布局和匹配网络,优化了高频性能,使得器件在W波段(75-110GHz)的fmax达到300GHz以上,显著提升了高频应用场景下的性能表现。
创新点4:集成化设计(可选创新)。将高击穿电压和多端口堆叠拓扑集成于单一芯片,实现了高性能与小型化的平衡,为毫米波通信和雷达系统提供了紧凑的解决方案。