JSSC 2017第6期MemorySRAM

Characterizing the Impact of RTN on Logic and SRAM Operation Using a

研究RTN对逻辑和SRAM操作的影响，采用双环结构进行表征。

无

RTN逻辑操作SRAM双环结构噪声影响

▸使用双环结构表征RTN影响

▸分析RTN对逻辑和SRAM的不同影响

▸提出减少RTN影响的优化方法