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JSSC 2017第9期Memory28nmSRAM

A Compact Area Low VDDmin 6T SRAM

一种紧凑型低电压6T SRAM设计
28nm CMOS, 1.2V, 100MS/s
SRAM低电压6T紧凑设计稳定性
创新点1:紧凑型面积设计 - 通过优化晶体管布局和共享扩散区域,实现了比传统6T SRAM单元更小的面积占用,具体减少了约15%的单元面积,同时保持了相同的功能完整性。
创新点2:低电压操作 - 采用新型的电压自适应技术,使得SRAM在低至0.5V的电源电压下仍能稳定工作,显著降低了功耗,适用于物联网和移动设备等低功耗应用场景。
创新点3:优化的读写稳定性 - 通过引入动态反馈机制和增强的读写辅助电路,提高了SRAM在低电压下的读写稳定性,读写错误率降低了20%,同时提升了整体性能。
创新点4:系统级能效优化 - 结合电压缩放和时序调整技术,实现了系统级的能效优化,在保持高性能的同时,整体能效比提升了25%,适用于高性能计算和边缘计算应用。