A 0.19pJ/b PVT-Variation-Tolerant Hybrid Physically Unclonable Function Circuit for 100% Stable Secure Key Generation in 22nm CMOS

📋 论文概要

这篇论文提出了一种混合型物理不可克隆函数（PUF）电路，结合SRAM PUF和门级PUF，实现了对工艺、电压、温度（PVT）变化的鲁棒性，能够在0.18μm CMOS工艺下以0.19pJ/b的能量效率生成100%稳定的密钥，解决了传统PUF在不同环境下稳定性差的问题。

💡 主要创新点

• 提出了一种混合PUF架构，融合了基于SRAM和基于逻辑门的PUF设计，提高了随机性和稳定性。
• 通过PVT变化容忍的电路设计，实现了在宽温度、电压范围内100%的密钥生成稳定性。
• 实现了极低的0.19pJ/b能量消耗，适合低功耗安全应用。

🏷 关键词

📄 原文摘要

Steven K. Hsu, Amit Agarwal, Gregory K. Chen, Rachael J. Parker, Ram K. Krishnamurthy, Vivek De Intel, Hillsboro, OR Physically unclonable function (PUF) circuits are low-cost cryptographic primitives used for generation of unique, stable and secure keys or chip IDs for device authentication and data security in high-performance microprocessors

👥 作者与机构

Sanu K. Mathew, Sudhir K. Satpathy, Mark A. Anders, Himanshu Kaul,